產(chǎn)品關(guān)鍵詞:
CCT循環(huán)腐蝕試驗箱
所屬分類:
鹽霧試驗箱
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產(chǎn)品詳情
用途
復(fù)合鹽霧試驗又叫循環(huán)腐蝕試驗,循環(huán)腐蝕試驗(CCT)主要應(yīng)用于汽車工業(yè),在恒定鹽霧試驗基礎(chǔ)上引入了高溫、濕度、低溫、干燥等參量,盡可能考慮了自然環(huán)境中的諸多條件因素,目的為取得與自然環(huán)境相關(guān)性更高的試驗結(jié)果。復(fù)合鹽霧試驗?zāi)康氖怯脕泶_認(rèn)待測物忍受鹽霧環(huán)境的能力,利用鹽霧與濕氣相互循環(huán)方式來模擬實際使用環(huán)境。適用于評估金屬材料與鹽粒子所產(chǎn)生的電化學(xué)腐蝕效應(yīng)。
試驗說明
復(fù)合鹽霧試驗通常包括三個部分,鹽霧試驗階段、潮濕試驗階段、干燥試驗階段
●鹽霧試驗階段:一般來說,除NCI(氯化鈉)外,也可使用含其他化學(xué)品的電解液來模擬酸雨或其它工業(yè)腐蝕;
●潮濕試驗階段:測試程序通常要求高濕度條件,相對濕度要求為95%;
●干燥試驗階段:樣品干燥階段一般相對濕度≤30%;
結(jié)果判定
功能必須正常,產(chǎn)品功能失效或性能參數(shù)超過設(shè)計余量為不合格:
腐蝕導(dǎo)致**結(jié)構(gòu)物理特性減少25%以上為不合格(包括但不限于屈服強(qiáng)度、硬度、穿透強(qiáng)度、質(zhì)量及彎曲阻抗等產(chǎn)品重要參數(shù));
外露面不應(yīng)該出現(xiàn)腐蝕,涂鍍層及基體都不應(yīng)腐蝕,不應(yīng)有氣泡、開裂等影響產(chǎn)品外觀形象的不良現(xiàn)象;
非外露面,基體不應(yīng)出現(xiàn)腐蝕,涂鍍層腐蝕深度不應(yīng)超過表面的5%,腐蝕面積不應(yīng)超過10%;
干濕鹽霧快遞交變過程
核心技術(shù)參數(shù)
型號 | CZZ-1000D | CZZ-1600D | CZZ-2000D |
內(nèi)箱尺寸WxHxD(mm) | 1200x800x1000 | 1600x800x1000 | 2000x800x1000 |
外箱尺寸WxHxD(mm) | 2250x1720x1220 | 2950x1720x1220 | 3550x1900x1220 |
試驗室溫度范圍 | 20℃~70℃ | ||
飽和桶溫度范圍 | RT~70℃ | ||
濕度范圍 | 20%~98%RH | ||
鹽水噴霧量 | 1.0~2.0ml/80cm²/h(**少收集16小時,取其平均值) | ||
噴霧壓力 | 70~170KPa | ||
樣品放置角度 | 20°±5° | ||
干濕鹽霧快速交變過程 | 鹽霧試驗1min~99H任意設(shè)置; 干燥試驗1min~99H任意設(shè)置; 濕熱試驗1min~99H任意設(shè)置; | ||
噴霧模式 | 連續(xù)噴霧、周期噴霧、循環(huán)噴霧自行選擇 | ||
控制精度 | 溫度偏差:±2.0℃; 溫度偏差:≥75RH時≤+2-3%R.H; 濕度偏差:<75%RH時≤±5%R.H | ||
箱體材質(zhì) | 內(nèi)鈦板,外不銹鋼板烤漆 | ||
冷卻方式 | 水冷 | ||
控制系統(tǒng) | 西門子PLC+西門子溫度模塊+人機(jī)界面 | ||
供電條件 | AC380V 50Hz(60Hz訂制)三相四線+保護(hù)接地 |
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法
●DO160E/F/G 鹽霧試驗要求
●GB/T20854-20071S014993-2001 金屬和合金的腐蝕循環(huán)暴露在鹽霧、”干”和“濕”條件下的加速試驗
●GB/T24195-2009/1S016151:2005 酸性鹽霧、干燥和濕潤條件下的循環(huán)加速腐蝕試驗
●GJB150.11A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法鹽霧試驗
●GB/T2424.17-2008/1EC60068-2-11:1981 鹽霧試驗方法
●GB/T2423.18-2012/1EC60068-2-52:1996 氯化鈉交變鹽霧試驗方法
●GB/T2423.3-2006/1EC6008-2-78-2001 試驗cab:恒定濕熱試驗方法
●GB/T10125-2012/1S09227-2006 人造氣氛腐蝕試驗鹽霧試驗
●GB/T31467.3-2015 電動汽車用鋰離子動力蓄電池包和系統(tǒng)第3部分:安全性要求與測試方法:鹽霧試驗
●ASTM B117、ASTM B368
●GB/T10587-2006 鹽霧試驗箱技術(shù)條件
●GBT10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
●GB/T5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法-鹽霧試驗設(shè)備
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